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製品情報

  • 太陽電池モジュール製造設備
  • 専用機
  • カラーシステム

EL検査装置

  • 結晶系
  • 薄膜系
  • 化合物系

マイクロクラック，フィンガー断線を自動判定

※写真の大型ディスプレイは説明のために準備したもので、実際の装置構成には含まれません。

特徴

  • 太陽電池のEL（Electro Luminescence）現象を利用。
  • 検出されたクラックなどは欠陥の種類に応じて、色分けし表示。
  • 1つのモジュールに対し、4セルごとに高解像度で撮影。（PVE1116i-M，PVE1120-T）
  • 45～60秒/モジュール（搬送時間含む）という高速処理を実現。（PVE1120-T）
EL検査装置

仕様

型式 PVE1200-C PVE1116i-S PVE1116i-M PVE1120i-T
ショット形式 シングルショット マルチショット トリプルタイプ
最大測定サイズ 220ｘ470mm 1100ｘ1650mm 1100ｘ1650mm 1100ｘ2000mm
撮像時間 3sec./セル
1192セル/時間		 60～70sec./モジュール
10×6モジュール		 84～100sec./モジュール
10×6モジュール		 45～60sec./モジュール
12×6モジュール
機械 電源（3相AC200V, 50/60Hz） 30A 40A 50A 60A
空圧源 0.5～0.8MPa 0.5MPa以上
カメラ 画素数 1392×1040ピクセル 1000×1000ピクセル 1000×1000ピクセル 1390×1000ピクセル
電源（本体電源よりトランスにて変換） 単相AC100V

オプション

  • 自動リボン接続機能
  • 自動モジュールサイズ合わせ機能

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